霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)試流程
點(diǎn)擊次數(shù)：1010 更新時(shí)間：2022-12-01
霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)是一種用于材料科學(xué)、信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)領(lǐng)域的儀器，主要用于研究光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。
測(cè)試流程：
1、接通電源，打開(kāi)電腦。
2、調(diào)整儀器，放置準(zhǔn)備好的樣品。
3、抽真空。
4、設(shè)置參數(shù)。
5、加液氮至所需溫度條件。
6、測(cè)量，讀取結(jié)果，保存。
7、斷開(kāi)電源，關(guān)閉電腦。
8、待樣品冷卻至常溫在大氣壓下取樣。
霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) L79/HCS可用于半導(dǎo)體組件性能表征，包括:遷移率，電阻率，載流子濃度和霍爾常數(shù)。
特點(diǎn)：
• 載流子濃度
• 電阻率
• 遷移率
• 電導(dǎo)率
• α (水平電阻值/垂直電阻值)
• 霍爾常數(shù)
• 磁致電阻